werth tomoscope x射线断层扫描测量机将x射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现产品无损可视化准确测量，并可选配光学、光纤、探针、激光扫描等多种传感器。对工件内外部所有结构尺寸全面的高精密测量，同时可实现工件材质的缺陷分析。可对塑料、陶瓷、复合材料、金属等多种材质制成的产品进行无损尺寸测量和装配评估等。压缩测量周期的同时，保证了高品质的要求。此机荣获2005年度欧洲模具设计金奖。
werth tomoscope x射线断层扫描测量机主要特点：
◆  将x射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现复杂部件高精度内外尺寸全面测量
◆  可选配第二个z轴，配置其他传感器（光学、探  针、光纤、激光等）
◆ werth公司技术复合式传感器技术，进一步保证 ct测量数据更准确
◆ 坚固的花岗岩基座，保证机器具有高稳定性
◆ 高精密机械轴承技术及线性导轨系统，确保实现高精度的测量
◆ 无论从设计还是结构，测量机完全满足并超出x射线使用安全标准
◆ 基于werth公司优异的图形处理及3d重构技术，测量速度更快 
◆  werth公司技术的x射线传感器独立校准系统
◆  werth公司技术的栅格断层扫描技术：
       精密测量微小部件
       扫描更大尺寸工件，提高分辨率
       扩展测量范围
◆  测量软件可快速3d重构，也可进行2d测量
◆  测量工件内部尺寸的同时，也可实现材质缺陷分析
◆  选用全球广泛应用的winwerth软件 (德国国家计量院ptb长度标准认证) ，界面友好，操作简单
◆  可使用bestfit及公差拟合tolerancefit软件进行轮廓匹配分析及三维cad工件公差比对
◆  广泛应用于复杂尺寸测量，首件评估，逆向工程，质量控制等
应用领域: 模具行业、逆向工程、汽车行业、航空航天、精密机械加工、船舶等
 
技术参数：
型   号
tomoscope ha
tomocheck
tomoscope
hv compact
tomoscope hv 500
分辨率
0.1μm
0.1/0.01μm
0.1μm
0.1μm
定位速度
150mm/s
60mm/s
150mm/s
150mm/s
加速度
300mm/s2
250 mm/s2
350 mm/s2
350 mm/s2
工作台承重
2kg
10kg
40kg
40kg
仪器自重
3000kg
6000kg
11000kg
13000kg
应用实例：
werth tomoscope x射线断层扫描测量机非接触无损内部缺陷扫描。

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